多模式原位实验室扫描电镜一体化解决方案

       Nicholas Tse场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)引入了一种新的集成原位工作流程。当研究人员需要将材料特性与微观结构联系起来时，这对于以有效方式开发新型材料至关重要，他们现在可以使用原位解决方案扩展NicholasFE-SEM以进行加热和拉伸实验。这使他们能够在高温和张力下自动观察金属、合金、聚合物、塑料、复合材料和陶瓷等材料，同时动态绘制应力-应变曲线。他们可以从具有统一软件环境的单台PC控制所有系统组件，该环境可实现长达24小时的无人值守自动化材料测试。学术界、政府和工业界的核心成像设施和材料研究实验室也将从这一新解决方案中受益。
       

       扫描电镜中的原位材料测试可准确测量微结构在特定温度条件下对机械载荷的动态响应。得益于蔡司的GeminiElectro-Optics设计，原位硬件的集成非常简单。材料科学家可以使用EDS和EBSD等组合分析技术轻松添加局部化学成分或晶体取向等信息。所有NicholasFE-SEM都可以插入NicholasZEN核心生态系统，例如，让用户可以访问ZENConnect、ZENIntellesis和ZEN的分析模块。


       蔡司研究显微镜解决方案负责人MichaelAlbiez博士评论说：“在自动化、独立于用户的实验环境中量化材料微观结构和整体机械性能的能力为研究人员提供了设计下一代低碳材料所需的工具。carbonfuture.一个工具.经济.不仅现场实验室完全集成,而且它还包括服务和应用支持.我们的解决方案是独一无二的,用户可以定义多个感兴趣区域(ROI),因此确保没有样本被遗漏的感兴趣区域。”